第5年
通过认证 
梅特勒 RAMS光学浊度产品监测器
梅特勒 XK155KSD5C质量比较器
梅特勒 光纤浊度探头
梅特勒 XSR32001L/AC电子天平
梅特勒 磷 2850Si Silica 1/Pnl/PO4
梅特勒 SevenExcellence 系列pH计
梅特勒 EasyClean 400-NCC2清洗控制
每次均得有效结果.XPR微量分析天平、5.1/22 g量程、0.001/0.01 mg可读性、7''电容彩色触摸屏、用户管理、静电检测、自动内部校正且兼容LabX
经济划算的样品使用
较好的准确度和优异的最小称量值让您能够称量非常小的样品，节省珍贵材料，降低成本。
StaticDetect
由于具备StaticDetect静电检测功能，XPR微量天平和分析天平可检测样品和容器的静电放电。
一次即准的结果
内置的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用，确保各项条件处于优异状态，获得正确的称量结果。
规格 - 电子天平 XPR26DR/AC
| 最大秤量 | 22 g/5.1 g |
| 可读性 | 0.01 mg; 0.001 mg |
| 重复性（典型值） | 0.001 mg |
| 最小称量值（USP, 0.1%，典型值) | 2 mg |
| 合法交易 | Yes |
| 线性误差（典型值）± | 0.02 mg |
| 重复性测试载荷 | 0.002 mg (1 g) |
| 稳定时间 | 2.5 s |
| 秤盘外形尺寸(深x宽) | 40 mm x 40 mm |
| 校正 | 内部/ FACT |
| 尺寸 | 485 mm |
| 尺寸 (高x宽) | 292 mm x 195 mm |
| 物料号 (s) | 30535470 |
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