第3年
奥林巴斯 FlexoFORM 腐蚀检测扫查器
奥林巴斯 小底面探头
奥林巴斯 RollerFORM航空航天检测用
奥林巴斯 双晶阵列探头
奥林巴斯 HST-Lite手动单轴扫查器
奥林巴斯 IPLEX G Lite工业视频内窥
奥林巴斯 BXFM小型系统显微镜
奥林巴斯 Vanta iX在线XRF分析仪
奥林巴斯 STM7-BSW显微镜
BTX III X射线衍射（XRD）分析仪是一款机身小巧的台式分析仪，可以快速提供矿物主要成分和次要成分的可靠的定量性矿物学信息。
BTX III分析仪配备有一个独特小巧的样品托盘，可以替代传统的XRD仪器，而且重量很轻，几乎无需维护。这款独立式仪器无需压缩气体、水冷装置、二次冷水机组，或外置变压器，即可进行操作，因此可以保持较低的拥有成本。操作人员通过使用以太网或无线连通性能，可以将XRD仪器直接与其他设备连接。
奥林巴斯的XRD分析仪采用了具有以下特性的直观的SwiftMin软件：单屏控制面板显示多种数据、预先设置校准程序、轻松导出数据，以及自动数据传输，从而简化了用户的工作流程。
速度和灵敏度的提高有助于迅速做出决策
BTX III分析仪将性能强大、简洁直观的软件与经过改进的X射线探测器结合在一起使用，不仅提高了灵敏度，加快了分析进程，而且可以获得更可靠的结果。
更新后的X射线探测器硬件，运行速度更快，分析密度更高，进而可以获得更低的检出限。
SwiftMin自动矿物相辨别（ID）和定量软件可以直接在XRD分析仪上实时提供数据，因此您可以迅速及时、充满信心地做出决策。
样品制备，轻松完成
使用传统的台式X射线衍射仪器时，需要将大批量的样品研磨成粉末，再碾压成小球状，以确保晶粒具有足够的随机定向性。
相比之下，BTX III分析仪可以使用小型振动样品托盘使样品舱中的所有颗粒进行对流，从而可确保数据几乎不受定向效应的影响。因此，分析仪只需要15毫克的样品就可以获得优质的检测结果，而且使用随分析仪附送的样品工具包可以轻松地制备样品。
| XRD分辨率 | 0.2 2Ø FWHM |
|---|---|
| XRD范围 | 5–55° 2Ø |
| 探测器类型 | 1024 × 256像素；2维Peltier致冷CCD |
| 样品颗粒大小 | < 150 μm的碾碎矿石（100目筛，150 μm） |
| 样品量 | 约15 mg |
| X射线管靶材 | 钴或铜（钴为标准配置） |
| X射线管电压 | 30 kV |
| X射线管功率 | 10 W |
| 数据存储 | 240 GB，坚固耐用的内部硬盘驱动器 |
| 无线连通性 | 802.11 b/g，从网络浏览器进行遥控 |
| 操作温度 | –10°C ～ 35°C |
| 重量 | 12.5 kg |
| 尺寸 | 30 cm × 17 cm × 47 cm |
| 电源要求 | 普通的AC电源（无冷却系统） |
有任何疑问，请及时与我们沟通！期待您的电铃！
电话： 0755-89686581
13265803631/鸿泽
微信客服
