根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪
高端半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率
XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；
准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm
基本滤片：固定或6种可切换
固定样品支架或手动XY载物台
摄像头可轻松定位最佳测量位置
样品高度最多17厘米;
牙科合金的无损分析，银测试
多层镀层测试
电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析
>
消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量
根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量
有任何疑问，请及时与我们沟通！期待您的电铃！
电话： 0755-89686581
13265803631/鸿泽
本网页所展示的有关【菲希尔 X-RAY XANX射线荧光光谱仪】的信息/图片/参数等由的会员【菲希尔Fischer-柏莱仪器网 】提供，由柏莱仪器网-专业销售仪器仪表服务商-深圳柏莱科技有限公司会员【菲希尔Fischer-柏莱仪器网 】自行对信息/图片/参数等的真实性、准确性和合法性负责，本平台（本网站）仅提供展示服务，请谨慎交易，因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决，本平台（本网站）对此不承担任何责任。您在本网页可以浏览【菲希尔 X-RAY XANX射线荧光光谱仪】有关的信息/图片/价格等及提供 【菲希尔 X-RAY XANX射线荧光光谱仪】的商家公司简介、联系方式等信息。
在您的合法权益受到侵害时，请您致电0755-89686581，0755-28286489，我们将竭诚为您服务，感谢您对柏莱仪器网-专业销售仪器仪表服务商-深圳柏莱科技有限公司的关注与支持！
周一至周五
09:00 - 17:30
微信客服
微信公众号
第3年
通过认证 
菲希尔 E X-RAY XDV-µ X射线荧光
菲希尔 X-RAY XDV-µ SEMI晶圆微结
菲希尔 HM2000专业级纳米压痕测量系
菲希尔 MMS INSPECTION DFT涂层测厚
菲希尔 FMP系列移动厚度测量仪
菲希尔 MMS INSPECTION DPM露点仪
